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上海棱光近紅外光譜分析儀S450
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上海棱光近紅外分光光度計S430
近紅外光譜分析儀（Near Infrared Spectroscopy Analyzer，NIR光譜儀）是一種常用的非破壞性分析儀器，用于對物質(zhì)進行近紅外光譜分析。下面對近紅外光譜分析儀進行簡單介紹。
近紅外光譜分析儀工作原理：
近紅外光譜分析基于樣品在近紅外波段（約700-2500 nm）吸收和散射特性來獲得相關(guān)信息。
儀器通過發(fā)射一束寬帶的近紅外輻射，并測量經(jīng)過樣品后返回的反射或透射信號。
比較待測物質(zhì)與參考標準之間的差異，利用數(shù)學(xué)算法建立模型，并根據(jù)模型預(yù)測待測樣品中的成分、含量或其他屬性。
近紅外光譜分析儀特點和優(yōu)勢：
1、非破壞性：不需要對樣品進行處理或破壞，可直接對固體、液體及氣體等不同形態(tài)的樣品進行檢測。
2、快速：可以在幾秒鐘到幾分鐘內(nèi)完成一次掃描和數(shù)據(jù)處理，提供即時結(jié)果。
3、多參數(shù)檢測：可以同時檢測多個組分或?qū)傩?，在藥品、食品、化工等行業(yè)有廣泛應(yīng)用。
4、無需樣品制備：不需要對樣品進行處理、稀釋或前處理，降低了操作的復(fù)雜性和時間成本。
近紅外光譜分析儀使用操作規(guī)程：
1、根據(jù)使用說明書正確安裝儀器并連接所需電源和數(shù)據(jù)傳輸線。
2、打開儀器電源，并根據(jù)實驗要求選擇合適的波長范圍及參數(shù)設(shè)置。
3、準備好待測物質(zhì)樣品，將其放置在樣品池或傳感區(qū)域中。
4、啟動測量程序，在一定時間內(nèi)記錄下讀數(shù)穩(wěn)定后的光強值或吸收譜線。
5、根據(jù)需要進行多次測量以獲得平均值，并記錄相關(guān)數(shù)據(jù)。
近紅外光譜分析儀是一種常用的非破壞性分析儀器，通過近紅外光譜技術(shù)獲取物質(zhì)的吸收和散射信息來預(yù)測其組成、含量或其他屬性，了解其工作原理、使用操作規(guī)程以及優(yōu)勢可以幫助用戶正確使用和解讀檢測結(jié)果。
| 項目 | 內(nèi)容 |
| 儀器型號 | S430 |
| 測量方式 | 透射樣品池 |
| 探測器 | 日本濱松制冷型銦鎵砷（InGaAs） |
| 光譜帶寬nm | 8 |
| 波長范圍nm | 900~2500 |
| 波長準確度nm | ±0.2 |
| 波長重復(fù)性nm | ≤0.05 |
| 雜散光% | ≤0.1 |
| 吸光度噪聲Abs | ≤0.0005 |
| 分析時間 | 1分鐘（可調(diào)節(jié)） |
| 數(shù)據(jù)傳輸方式 | USB2.0 |
| 定標技術(shù) | MPLS改進最小二乘法回歸定標技術(shù) |
| DPLS光譜鑒定及定性分析技術(shù) |
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